磁场Map/磁场成像系统
 MMS-1-RS多维磁场/磁体扫描成像数据分析系统
    MMS-1-RS作为SENIS磁场成像测绘系统的最新版本,用户通过它,可以对电磁铁或者永久磁铁的磁场进行快速并高分辨率地测绘。磁场的成像图可以在电脑上以彩色编码的2D或者3D等角视觉显示,成为磁场强度的数值表和全部磁场强度值等。
    MMS-1-RS多维磁场/磁体扫描成像数据分析系统由三维高精度霍尔探头与高精度微动平台组成,测试精度高达读数的0.1%,位移准确度高达5μm,可全自动化高精度测试空间磁场分布,各种形状磁体表磁分布,均匀性分布,N/S磁极分布,多极磁环,各种电机内外部磁场等诸多磁场特性测试,绘制各种立体三维图形,存储数据并保存打印。已广泛用于航天,军工,科研院。
    ◆最大扫描范围(X x Y x Z):500mm x 500mm x 135mm
    ◆最快扫描速度:100mm/s
    ◆扫描空间分辨率:低至5μm
    ◆霍尔探头的定位精度和可重复性5μm
    ◆DCAC测量范围:DC- 2.5KHz
产品资料下载↓↓  MMS-1-RS(中文版)    MMS-1-RS(英文版)  
  
 MMS-1A-RS多维磁场/磁体扫描成像数据分析系统
    MMS-1A-RS作为SENIS磁场成像测绘系统的最新高端版本,用户通过它,可以对电磁铁或者永久磁铁的磁场进行快速并高分辨率地测绘。磁场的成像图可以在电脑上以彩色编码的2D或者3D等角视觉显示,成为磁场强度的数值表和全部磁场强度值等。由于完全集成霍尔探头(硅芯片)的独特功能,磁场(Bx, By, Bz)的三个组成部分在几乎相同的点(场敏感区域小于150平方微米)上同时被测。此外,一个霍尔探头具有多达三个的可选择量程档。这个磁场成像测绘系统由基于MS Windows平台和LabVIEW的软件控制,该软件容易操作。扫描概况(Scanning profiles)可定制。
    MMS-1A-RS多维磁场/磁体扫描成像数据分析系统由三维高精度霍尔探头与高精度微动平台组成,测试精度高达读数的0.1%,位移准确度高达5μm,可全自动化高精度测试空间磁场分布,各种形状磁体表磁分布,均匀性分布,N/S磁极分布,多极磁环,各种电机内外部磁场等诸多磁场特性测试,绘制各种立体三维图形,存储数据并保存打印。已广泛用于航天,军工,科研院。
    ◆最大扫描范围(X x Y x Z):500mm x 500mm x 135mm
    ◆最快扫描速度:100mm/s
    ◆扫描空间分辨率:低至1μm
    ◆霍尔探头的定位精度和可重复性:2μm
    ◆DCAC测量范围:DC- 2.5KHz
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磁场成像系统MMS-1-RS与MMS-1A-RS参数对比
型号 MMS-1-RS MMS-1A-RS
机械规格
扫描平台的机械尺寸 400 mm x 350 mm x 650 mm 400 mm x 350 mm x 650 mm
整个系统重量 ◆机械部分: 26 kg
◆电子模块: 7kg
◆个人电脑: 2kg
◆机械部分: 26 kg
◆电子模块: 7kg
◆个人电脑: 2kg
最大扫描范围 (X x Y x Z) 标准: 135 x 135 x 135 mm³
选项: 500 x 500 x 135 mm³
标准: 135 x 135 x 135 mm³
选项: 500 x 500 x 135 mm³
磁场敏感区到磁铁表面的最小距离 1.1 mm (如果选择的是 03A 型霍尔探头)
0.3 mm (选项:如果选择的是03G型霍尔探头)
1.1 mm (如果选择的是 03A 型霍尔探头)
0.3 mm (选项:如果选择的是03G型霍尔探头)
最大扫描范围 (X x Y x Z) 标准: 135 x 135 x 135 mm³
选项: 500 x 500 x 135 mm³
标准: 135 x 135 x 135 mm³
选项: 500 x 500 x 135 mm³
最大扫描速度 标准: 50mm/s “SCANNING ON THE FLY”模式 (持续扫描)
选项: 100mm/s(与增量编码器搭配使用)
标准: 100mm/s “SCANNING ON THE FLY”模式 (持续扫描)
两个测量点的最小间隔 (空间分辨率) 标准:5μm
选项:1μm (与增量编码器搭配使用)
1 μm; 0.022°
霍尔探头的定位精度和可重复性 5 μm 2 μm (线性), 0.04° (旋转)
预热时间(从冷启动到可以测量这段时间) < 3 min < 3 min
关机时间 < 1 min < 1 min
从紧急停止恢复时间 < 1 min < 1 min
磁场测量参数
磁场测量量程
标准:一个固定量程档;
选项:多达3个量程档
◆± 20 mT
◆± 50 mT
◆±100 mT
◆±200 mT
◆±500 mT
◆±1,000 mT
◆±2,000 mT
◆± 20 mT
◆± 50 mT
◆±100 mT
◆±200 mT
◆±500 mT
◆±1,000 mT
◆±2,000 mT
磁场测量分辨率 优于0.02%(当测量量程≥200mT时)
优于 0.05% (当测量量程≤100mT时)
优于0.02%(当测量量程≥200mT时)
优于 0.05% (当测量量程≤100mT时)
磁场测量精度 优于 0.1% 优于 0.1%
测量采样率 >60 kSamples/s, for 3-channels acquisition
>200 kSamples/s, for 1-channel acquisition
>60 kSamples/s, for 3-channels acquisition
>200 kSamples/s, for 1-channel acquisition
磁场频率带宽 DC—2.5 kHz (-3dB point)
选项: DC— 25kHz(针对三维探头)
DC— 75kHz(针对单维探头)(-3dB)
DC—2.5 kHz (-3dB point)
选项: DC— 25kHz(针对三维探头)
DC— 75kHz(针对单维探头)(-3dB)
磁场成像系统的典型应用场合
    ◆磁场的三轴(Bx, By, Bz)测量、磁场的角测量、磁场编码器的峰值和零值探测、计数磁极的数量;
    ◆生产的质量评估工具,用于如扬声器,单和多极的永久磁铁,复印机辊和磁性条带组件;
    ◆用于永久磁铁裂纹的探测;
    ◆磁铁系统的开发发展;
    ◆交流磁场的测绘;
    ◆在实验室和生产线等中的应用